90纳米光刻机通过验收测试
中国半导体行业协会副理事长、中科院微电子所所长叶甜春25日在IC China高峰论坛上表示,发展装备是为了壮大本土供应链支撑半导体制造行业的发展,国内装备在薄膜、溅镀、刻蚀工艺领域都已经取得突破进展,但目前最前端的光刻机仍是最困难的一个环节。
他指出,中国首套光刻机曝光系统研发,可以说是目前是全世界难度最高的超精度技术,尤其在超精密光学领域, 需要关键技术自主研发。而当前中国已经在此领域取得初步的突破。
据悉,长春光学精密机械与物理研究所、应用光学国家重点实验室负责物镜系统;照明系统由中国科学院上海光学精密机械研究所,两个团队所共同负责的国产光刻机已于2017年7月首次曝光成功,2017年10月曝光光学系统在整机环境下已通过验收测试。
长春国科精密光学技术有限公司、科技部原副部长、02专项光刻机工程指挥部组长曹健林在分享专项进展时表示,目前90纳米检测已经达到要求,希望未来五年内应可顺利验收完成。
2007年正式启动90纳米节点曝光光学系统立项,2009年项目获批,国产光刻机物镜系统由长春光学精密机械与物理研究所、应用光学国家重点实验室负责;照明系统由中国科学院上海光学精密机械研究所,两个团队所共同负责,专项一期项目投入近6亿元。专项目标是建立物镜超精密光学研发团队与平台,并实现产业化满足IC生产线的批量生产要求。
曹健林称,光刻机的研发过程严格按照里程碑节点进行控制与设计,并建立综合设计、加工、镀膜、装配、测试、装调全工艺过程的像质预测模型。2015年7月已经完成装配,其后展开物镜测试台的精度提升工作;2016年9月物镜系统已经交付,整个大硅片都已经进行分布式测量;2017年7月首次曝光成功;2017年10月曝光光学系统在整机环境下通过验收测试。
攻克“皇冠上明珠”朝28纳米迈进
曹健林进一步说,应该说国内半导体行业的关键材料与装备才刚刚起步,希望未来光刻机自主研发能攻克难关拿下这颗 “工业皇冠上的明珠”。他称,接下来项目还将继续推进攻克28纳米研发,规划两年后拿出工程样品,目前EUV的原理系统也已经“走通了”,预计明年主攻EUV 53波长机台。
清华大学微电子研究所所长魏少军则也分析表示,过去十年,中国保持比国际同行更高的发展速度,而且稳步提升发展质量,这才是关键。
随着02专项的支持,国内重大装备于2016年国产装备销售已达32亿元人民币。 他也提个醒,尽管不可否认中国半导体行业的快速发展取得瞩目,但在肯定自身进步的同时,也要看见自己仍存在的差距。他举例,以当前集成电路每年约进口两千亿元来细看,其中主要以微处理器、存储器就约占了1500亿,这两个部分也恰恰是中国目前自身还做不到的。
随着02专项的支持,有些重大装备已经取得突破。但他指出当前面对中国集成电路发展,应该“正确理解中国集成电路产业存在差距”。
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