PI独特的并行梯度搜索技术

该算法以对准系统微米级甚至纳米级的探索性运动为基础，可测量品质因数的局部梯度，例如相机镜头系统的图像质量或激光器的输出功率。然后自动遵循该梯度，直至达到所需的元件位置和方向。该程序提供出色的跟踪功能，因此可以补偿任何漂移效应。PI独特的方法可以使多个梯度搜索程序并行进行。这意味着可以同步进行多个元件、自由度、通道等的优化。这一开创性功能可以将整体优化时间缩短两个或更多个数量级。

梯度搜索可以在不到1秒的时间内找到信号最大值。

同时调整多个单一元件

在复杂的光学系统中对准单个透镜元件是一项具有挑战性且耗时的任务。然而，借助于PI独特的内置于控制器固件中的算法以及同样独特的机械调整单元，可在单一操作中并行对准多个透镜。

PI –自动多通道光纤阵列对准

将光纤（单模或多模光纤）连接到硅光子器件(SiP)仍然是这些器件的测试与封装中具挑战性和复杂性的任务之一。

基于其独特的“快速多通道光子学对准”系统，PI成功开发了一种用于晶圆探测的高吞吐量自动化子系统。该视频现在展示了实现芯片级测试和封装自动化的方法。

SiP生产快速光学校准

PI快速硅光对准FMPA技术可用于大多数的工序优化

· 激光腔调节

· 摄像头组装

· 无人驾驶的激光传感器

· 光缆

· 硅光子 (SiP)

-芯片检测

-芯片封装

· 量子计算