安捷伦和 Cascade Microtech 宣布合作以提高晶片级测量效率

    统一的、独特的晶片级直流和射频测量解决方案增强了客户的测量信心

    2014年 6 月 11 日，北京――安捷伦科技公司（NYSE：A）和 Cascade Microtech（NASDAQ：CSCD）日前宣布双方结成战略合作关系，旨在为客户提供经过全面配置和验证的射频测量解决方案，该解决方案不仅能够简化晶片级半导体测量，而且还能提供有保障的配置、安装及支持。

    安捷伦副总裁兼元器件测试事业部总经理 Gregg Peters 表示：“安捷伦和 Cascade Microtech 作为测试测量行业和晶圆上探测领域的全球领导者，它们拥有精深的专业技术和丰富的产品生产线，可以提供用于晶片级器件测试的全部构建模块。通过协同的资源和方案，我们面向双方共同的半导体客户首次推出了独特的不同以往的晶片级测量解决方案。”

    从测量配置到精确验证

    晶片级射频测量系统的选定和配置是一项费时费力的工作，客户通常需要对多个供应商提供的测试设备进行现场配置与验证，并且必须为初次测量预留更久的设置时间。借助安捷伦与 Cascade Microtech联合推出的晶片级测量解决方案（WMS），半导体客户现在能够使用适当的设备执行精确、可重复的直流和射频测量以及器件表征和建模，以便显著缩短初次测量设置时间。

    Cascade Microtech 总裁兼首席运营官 Michael Burger 表示：“半导体制程的开发、建模和表征任务日趋复杂化，而产品上市周期却在不断缩减，客户对测量精度的要求也越来越严苛。我们携手安捷伦开发了值得信赖的晶片级测量解决方案，帮助工程师对半导体元件和器件执行精确、快速的高级直流和射频测量，以确保他们及时推出高质量的产品。”

    最新的晶片级测量解决方案整合了 Cascade Microtech 的晶圆探针台、探针和校准工具以及安捷伦测试仪器和测量分析软件，将会为半导体测试带来深远影响。每种解决方案配置在出厂前均已通过预先验证，以满足客户的特定应用需求，在 Cascade Microtech 解决方案专家安装完毕后，可根据之前商定的验收标准再次验证配置。安捷伦或 Cascade Microtech 承诺免费填补解决方案缺失的任何部件，以确保客户享受有保障的配置。

    另外，在 Agilent WaferPro-XP 测量软件的基础上，安捷伦和 Cascade Microtech 共同开发了独特的工作流程解决方案软件。加上 Cascade Microtech 的 Velox 探针台软件，客户现在可以开发出适合多种测量需求的全面晶圆测试套件（例如，S 参数、DC-IV/CV、噪声系数、闪变噪声和增益压缩）。这种组合软件为测试开发提供了相干环境。

    每个晶片级测量解决方案均配有完善的支持套件，并且允许客户联系经验丰富的区域解决方案专家以索取晶圆上测试测量技巧。Cascade Microtech 提供单点联系方式，帮助客户迅速解决问题。

    定价及上市信息

    安捷伦和 Cascade Microtech 共同研发的晶片级射频测量解决方案现在提供多种配置选择，从采用半自动或手动探针台的新的高度集成解决方案、到在现有的探针台上进行特定应用硬件升级。新型 Agilent WaferPro-XP 测量软件平台适用于研发器件表征，可与现有的晶片级测量解决方案配合使用。定价取决于客户所选择的解决方案配置。如欲了解特定定价和销售信息，请联系您当地的安捷伦现场工程师或 Cascade Microtech 销售经理。