2013年10月17-20日武汉东隆科技（以下简称“东隆科技”）与合作公司——德国PicoQuant一同前往武汉物理与数学研究所，为唐淳教授所带领的课题组安装调试最新一代基于激光扫描显微(LSM)的荧光寿命成像及分析系统。

    由PicoQuant公司开发的 LSM荧光寿命成像系统，拥有极高的时间分辨率(4ps)，基于定比鉴别(CFD)和时间延时原理(TDC)的精准数据采集方式和籍由高度模块化所带来的组合灵活性以及操作便捷性等优点。再配合灵敏的单光子探测器和最新的SymPhoTime64软件，可以针对荧光寿命成像 (FLIM)，荧光相关性光谱 (FCS)，荧光共振能量转移 (FRET)，反聚束 (Antibunching)，量子通讯 (Quantum cryptography)，超相关 (Super correlation) 和普通的点寿命测量，强度-时间分布等主流应用提供功能完备的数据采集，分析及后续的拟合计算功能。此外，多种的变频脉冲光源和丰富的配件，使该系统有良好的系统整合性。与Nikon 的共聚焦LSM系统搭配后，可实现精准的单分子级别测量以及对样本有一定穿透深度要求的应用。

    首日，Steffen Ruettinger博士同东隆技术人员李肖北，王川和黄超一行四人在物数所对各设备进行了拆封，核对及连接试运行。其中包括，光路校准，耦合调试等。由于采用了PQ原生封装的探头单元和激光单元，所以采样结果的噪音抑制非常理想，信噪比接近1000：1。